Preview

Теория и практика судебной экспертизы

Расширенный поиск

ВОЗМОЖНОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПРОФИЛОМЕТРИИ ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕ КРИМИНАЛИСТИЧЕСКОЙ ЭКСПЕРТИЗЫ

Полный текст:

Аннотация

Рассматриваются актуальные вопросы совершенствования технико-криминалистического
обеспечения деятельности экспертных подразделений при производстве судебно-
баллистических и трасологических исследований, связанных с изучением морфологии
поверхности. Предлагаемый технический комплекс в совокупности с методикой
позволяет автоматизировать процесс измерения и сравнения выявленных особенностей
морфологии поверхности, что способствует повышению качества проводимых
экспертными подразделениями исследований.

Об авторах

Ю. В. Чугуй
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН
Россия
директор, доктор технических наук, профессор, заслуженный деятель науки РФ


Е. В. Сысоев
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН
Россия
сотрудник, кандидат технических наук


Р. В. Куликов
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН
Россия
младший научный сотрудник


И. В. Латышов
Волгоградская академия МВД
Россия
начальник кафедры трасологии и баллистики УНК ЭКД, кандидат юридических наук, доцент


А. В. Кондаков
Волгоградская академия МВД
Россия
старший преподаватель кафедры трасологии и баллистики, кандидат юридических наук


В. А. Васильев
Волгоградская академия МВД
Россия
преподаватель кафедры трасологии и баллистики, кандидат химических наук


Список литературы

1. Трасология и трасологическая экспертиза: учебник/под ред. И.В. Кантора. -М.: ВА ИМЦ ГУК МВД России, 2002. -376 с.

2. Выполнение измерений параметров шероховатости поверхности по ГОСТ 2789-73 при помощи приборов профильного метода/сост. Б.Н. Хватов. -Тамбов: Изд-во Тамб. гос. техн. ун-та, 2006. -24 с.

3. Сысоев Е.В., Выхристюк И.А., Куликов Р.В., Поташников А.К., Разум В.А., Степнов Л.М. Интерференционный микроскоп-профилометр//Автометрия. -2010. -Т. 46. -№ 2. -С. 119-128.

4. Сысоев Е.В., Голубев И.В., Чугуй Ю.В. Измерение поверхностных дефектов на основе низкокогерентной интерферометрии//Датчики и системы. -1999. -№ 6. -С. 25.


Для цитирования:


Чугуй Ю.В., Сысоев Е.В., Куликов Р.В., Латышов И.В., Кондаков А.В., Васильев В.А. ВОЗМОЖНОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПРОФИЛОМЕТРИИ ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕ КРИМИНАЛИСТИЧЕСКОЙ ЭКСПЕРТИЗЫ. Теория и практика судебной экспертизы. 2014;(3(35)):118-124.

For citation:


Chugui Y., Sysoev E., Kulikov R., Latyshov I., Kondakov A., Vasiliev V. APPLICATIONS OF OPTICAL PROFILOMETRY IN FORENSIC CRIME SCENE INVESTIGATION. Theory and Practice of Forensic Science. 2014;(3(35)):118-124. (In Russ.)

Просмотров: 93


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1819-2785 (Print)
ISSN 2587-7275 (Online)